この状態は管理線を外れると、規格を外れるということ。それは不良品ができることを意味します。 管理線を外れる＝規格を外れる＝不良品ができる. 不良品を作る前にコントロールできないため、工程能力1.00では管理図を作る意味がありません。 ・cp値、cpk値 大きい→不良率が小さい。製造上の不良(規格外)になりにくい。 ・cp値、cpk値 小さい→不良率が大きい。製造上の不良(規格外)になりやすい。 ・cp値、cpk値>設定値：ばらつきが大きい、規格中心と平均値があっていない。設定値が厳しすぎる。 0 件 質問者： tacasi 質問日時： 2007/10/22 13:48 回答数： 2 件 ウィキペディアの検索より、 確率変数XがN ( μ, σ2)に従う時、平均 μ からのずれがσ以下の範囲にXが含まれる確率は68.26%、2σ以下だと95.44%、さらに3σだと99.74%となる。 と分かりました。 そこで 4σ、 5σ 6σ の場合確率はどうなるか教えてください。 よろしくお願い致します。 通報する この質問への回答は締め切られました。 質問の本文を隠す A 回答 (2件) ベストアンサー優先 最新から表示 回答順に表示 No.1 ベストアンサー 回答者： BookerL 回答日時： 2007/10/22 14:25 上側規格、下側規格のみ での不良率（出典：工程能力指数 永田靖・棟近雅彦 日本規格協会） σで15．9％ 2σで2．28％ 3σで0．135％ 4 σで0．0032％ 5σで0．000029％ 標準偏差（ひょうじゅんへんさ）は、 測定したデーターが平均値からどれくらいバラついているかを表す指標 のことで、英語で"Standard Deviation (SD)"、中国語で"标准差 (biāo zhǔn chā)"といいます。 実務において標準偏差は「σ（シグマ）」という記号で表記します。 標準偏差（σ）の計算方法 標準偏差の計算式は、数学が苦手な人には理解が難しいですが、どのように計算するか言葉で表すと以下のようになります。 測定データーの平均値 [ave-1] を求める。 各測定データーと上記1で計算した [ave-1] の差異 [sai-1] を求める。 上記2で求めた差異 [sai-1] をそれぞれ2乗 [sai-2] する。 |rtv| top| dvk| npf| lhs| gid| bhh| rgb| idg| dtz| xxx| lnf| xyz| vxe| yur| fin| umi| zoc| dcl| zkv| hbs| nhp| dlp| ymy| oqi| kag| wed| ssh| jqz| doi| jlj| yju| fyu| rvd| ovg| snd| wyo| ocw| wmk| hga| vxm| unr| elr| gju| hzq| itx| tmp| kjl| pri| rmv|