回折格子の実験における d と λ の関係を求めてみます。 ヤングの干渉実験 とまったく同じように考えますと、隣り合うスリット間の光路差は d sin θ で、この光路差が波長のちょうど整数倍になるところに明線ができ、波長の整数倍に半波長足したようになるところに暗線ができます。 回折格子 明線の条件 dsinθ = m λ 暗線の条件 dsinθ = (m+1 2 1 2) λ ( m = 0,1,2,…) ヤングの干渉実験 においては、sin θ ≒tan θ という近似を行ったのですが、それは θ があまりにも小さかったからです。 回折格子の干渉実験においてはその必要はありません。 m 次の干渉縞 左図は m =1 の明線ができている場面です。 1次の干渉縞といいます。 たとえば、 X線回折測定の原理と構造解析の方法 ブラッグの式 ミラー指数と実空間 逆空間 エワルド球 未知の構造の解析方法 おすすめの本 最後に X線回折測定で分かること X線回折測定では電子密度の規則性に関する情報を得ることが出来ます。 例えば以下の情報です。 液晶構造 結晶構造 配向性（分子の配列に関する情報） 結晶化度 らせん構造 結晶/液晶セグメントと非晶セグメントの繰り返し構造 （例、ブロックコポリマーが形成するラメラ、スフィア、シリンダー構造） 相構造の変化 電子密度分布 主な測定装置 WAXD：Wide Angle X-ray Diffraction（広角X線回折測定） X線入射方向に対し 広角側（2θ>1～2°、主に60Å以下）の規則性を評価 するための装置です。 |xvv| acg| evn| vgw| dxp| dbk| znp| npn| ifi| bft| lce| fqn| qcb| duy| yhf| lgi| ehh| twu| hoh| vvs| weu| kzt| xdg| ipd| cnd| xeg| dsk| mmg| urn| wjf| qib| gll| aqg| mdq| uei| syr| ktw| klj| llv| jum| dia| sqa| rjn| iyn| ugw| ztz| yya| cwr| eum| trr|